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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
一、前言：
光伏組件在戶(hù)外長(zhǎng)期使用過(guò)程中，會(huì)持續(xù)承受晝夜溫差、季節(jié)交替及氣候帶來(lái)的溫度變化，易引發(fā)組件內(nèi)部材料熱脹冷縮、界面結(jié)合力下降、封裝層開(kāi)裂、電池片隱裂擴(kuò)展等結(jié)構(gòu)失效問(wèn)題。高低溫試驗(yàn)箱適用于晶體硅光伏組件、薄膜光伏組件等產(chǎn)品，利用高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱進(jìn)行結(jié)構(gòu)可靠性相關(guān)檢測(cè)。
二、測(cè)試設(shè)備：
高低溫試驗(yàn)箱（或高低溫濕熱試驗(yàn)箱）、光伏組件測(cè)試工裝、外觀檢查裝置、尺寸測(cè)量工具、絕緣測(cè)試裝置。
三、試樣要求：
試樣外觀完好，無(wú)明顯破損、裂紋、封裝缺陷；
試樣信息完整，標(biāo)注型號(hào)、規(guī)格、生產(chǎn)批次、測(cè)試編號(hào)；
測(cè)試前記錄初始外觀、尺寸及電性能參數(shù)。
四、測(cè)試流程：
1. 測(cè)試前預(yù)處理
檢查高低溫試驗(yàn)箱運(yùn)行狀態(tài)，確認(rèn)溫度波動(dòng)度、均勻度滿(mǎn)足使用要求；
將光伏組件平穩(wěn)放置于試驗(yàn)箱內(nèi)，組件之間、組件與箱體內(nèi)壁保持合理間距，保證氣流均勻；
記錄試樣初始狀態(tài)：外觀、玻璃完整性、邊框密封、封裝層狀態(tài)、接線(xiàn)盒固定情況。
2. 高溫存儲(chǔ)測(cè)試
設(shè)置試驗(yàn)箱溫度：85℃±2℃；
待箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)時(shí)，持續(xù)存儲(chǔ) 1000h；
測(cè)試過(guò)程中觀察設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，保證溫度穩(wěn)定；
測(cè)試完成后，將組件在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下恢復(fù) 2h 以上，再進(jìn)行外觀及結(jié)構(gòu)檢查。
3. 低溫存儲(chǔ)測(cè)試
設(shè)置試驗(yàn)箱溫度：-40℃±2℃；
待箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后開(kāi)始計(jì)時(shí)，持續(xù)存儲(chǔ) 1000h；
保持試驗(yàn)環(huán)境穩(wěn)定，避免溫度波動(dòng)過(guò)大；
測(cè)試完成后，在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下恢復(fù) 2h 以上，再進(jìn)行結(jié)構(gòu)檢測(cè)。
4. 高低溫循環(huán)測(cè)試（結(jié)構(gòu)可靠性核心項(xiàng)目）
溫度區(qū)間：-40℃ ～ +85℃；
溫度變化速率：不大于 1℃/min（或按產(chǎn)品規(guī)范設(shè)定）；
循環(huán)參數(shù)：
低溫段：-40℃±2℃，保持 30min；
高溫段：85℃±2℃，保持 30min；
循環(huán)次數(shù)：50 次 ～ 200 次（常規(guī)結(jié)構(gòu)可靠性驗(yàn)證采用 100 次）；
每完成一定循環(huán)次數(shù)可進(jìn)行外觀檢查，全部循環(huán)結(jié)束后進(jìn)行完整結(jié)構(gòu)評(píng)估。
5. 測(cè)試后結(jié)構(gòu)性能檢測(cè)
外觀檢查：觀察玻璃、邊框、封裝層、接線(xiàn)盒有無(wú)開(kāi)裂、脫層、變形、泛黃、密封失效；
結(jié)構(gòu)檢查：檢查組件有無(wú)明顯形變、封裝脫層、接線(xiàn)盒松動(dòng)、邊框脫落；
輔助判定：結(jié)合絕緣性能、濕漏電測(cè)試，綜合評(píng)估結(jié)構(gòu)完整性。
