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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
設(shè)備調(diào)試：檢查 PCT 老化箱的密封性能與壓力安全閥狀態(tài)，注入電阻≥1MΩ?cm 的去離子水；啟動(dòng)設(shè)備空載運(yùn)行 1 小時(shí)，校準(zhǔn)溫濕度、壓力的控制精度，確保參數(shù)波動(dòng)范圍符合設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)。
樣品安裝：將預(yù)處理后的光伏組件平穩(wěn)固定在箱內(nèi)支架上，若需同步監(jiān)測(cè)電氣性能，可通過(guò)箱體預(yù)留的密封接口連接測(cè)試儀器，保證接線(xiàn)處密封不泄漏。
參數(shù)設(shè)定與啟動(dòng)：根據(jù)測(cè)試目標(biāo)選擇對(duì)應(yīng)測(cè)試類(lèi)型，輸入溫度、壓力、測(cè)試周期等參數(shù)；啟動(dòng)設(shè)備后，觀察升溫升壓過(guò)程，確保在 3 小時(shí)內(nèi)達(dá)到設(shè)定條件，避免升溫升壓過(guò)快導(dǎo)致組件熱沖擊損傷。
過(guò)程監(jiān)控：測(cè)試期間每 24 小時(shí)記錄一次箱內(nèi)溫濕度、壓力數(shù)據(jù)；每 48 小時(shí)通過(guò)監(jiān)測(cè)儀器讀取組件的關(guān)鍵電氣參數(shù)；若發(fā)現(xiàn)參數(shù)異常波動(dòng)，立即記錄并排查設(shè)備或樣品問(wèn)題。
測(cè)試終止：達(dá)到設(shè)定周期后，啟動(dòng)設(shè)備的漸進(jìn)式降溫降壓程序，控制降溫速率≤5℃/h，防止組件因溫差過(guò)大產(chǎn)生裂紋；降溫降壓至室溫常壓后，取出組件放入標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境中靜置 24 小時(shí)。
后續(xù)檢測(cè)：對(duì)靜置后的組件再次開(kāi)展外觀檢查與電氣性能測(cè)試，重點(diǎn)核查封裝是否分層、背板是否老化、光電轉(zhuǎn)換效率是否異常衰減等；同時(shí)對(duì)比初始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計(jì)各項(xiàng)性能衰減指標(biāo)。
結(jié)果判定：若組件測(cè)試后外觀無(wú)鼓包、開(kāi)裂等缺陷，且光電轉(zhuǎn)換效率衰減率≤15%、絕緣電阻≥1×10?Ω，判定可靠性與耐久性符合要求；若出現(xiàn)明顯失效現(xiàn)象，需追溯封裝工藝或材料質(zhì)量問(wèn)題。
